Fehlerdiagnose für Logik mit regulären Strukturen

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Die Test-Technologie für hochintegrierte Schaltungen und Systeme hat sich lange auf nicht-diagnostische Verfahren für den schnellen Fertigungstest konzentriert. Mit der Notwendigkeit, bei Nano-Technologien den Prozess zur Steigerung der Ausbeute direkt und unmittelbar kontrollieren zu müssen, ergibt sich auch ein Bedarf an hocheffizienten Verfahren zur Fehlerdiagnose, die ihrerseits mit den Verfahren des Scan-Tests kompatibel sein müssen. Ein weiterer Bedarf ergibt sich dann, wenn permanent ausgefallene Bauelemente mit Verfahren des „Built-in Self Repair“ (BISR) ermittelt und ersetzt werden sollen. Dann ist ein diagnostischer Test bei minimalem Aufwand das eigentliche Problem. Vorgestellt wird ein Scan- basiertes diagnostisches Testverfahren, welches zur Reduzierung des Aufwandes reguläre Eigenschaften der Logik ausnutzt.