Optimierung der SMT-Lötqualität mittels statistischer Versuchsplanung
Konferenz: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008 - Systemintegration und Zuverlässigkeit - 4. DVS/GMM-Fachtagung
13.02.2008 - 14.02.2008 in Fellbach
Tagungsband: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008
Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Wohlrabe, Heinz (TU Dresden, Zentrum mikrotechnischer Produktion, Dresden Deutschland)
Inhalt:
Die statistische Versuchsplanung (Design of Experiments, DoE) ist eine Methode, um Prozesse zu optimieren und um zusätzlich Informationen aus dem „Inneren“ der Prozesse zu bekommen. Der Beitrag demonstriert zwei typische Beispiele der praktischen Nutzung dieser mathematischen Methode für die Fertigung von SMT-Leiterplatten, insbesondere für die Lötqualität. Qualitätsparameter sind das Hauptziel dieser Optimierung. Die Identifizierung von kritischen Parametern und ihre optimale Einstellung ist auch eine wichtige Aufgabe der Versuchplanung. Robustheit und Stabilität sind weitere Zielgrößen für eine solche Analyse.