Alternative Bewertungsmethoden für die Zuverlässigkeitsprüfung/Zyklenfestigkeit von Durchkontaktierungen
Konferenz: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008 - Systemintegration und Zuverlässigkeit - 4. DVS/GMM-Fachtagung
13.02.2008 - 14.02.2008 in Fellbach
Tagungsband: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2008
Seiten: 5Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Biener, Annemarie (FUBA PRINTED CIRCUITS GMBH, Gittelde)
Münch, Reinhold (Robert Bosch GmbH, Schwieberdingen)
Bagung, Detlev (Siemens VDO, Regensburg)
Decressin, Olaf (Hella KG aA Hueck & Co., Lippstadt)
Trageser, Hubert (Continental Automotive Systems, Nürnberg)
Inhalt:
Der Vortrag beschreibt Vorgehensweise und Ergebnisse bisheriger und weiterhin geplanter Versuchsreihen zur Klärung der Zusammenhänge zwischen verschiedenen Zuverlässigkeitstests an Leiterplatten und deren Bewertungsmethodik. Es wird nach einen Korrelation zwischen Widerstandsmessung und detaillierter Schädigungsbewertung durch metallographische Auswertungen gesucht. Die VdL/ZVEI Arbeitsgruppe „Zyklenfestigkeit von Leiterplatten“ hat mit den bisherigen Ergebnissen zur Klärung dieser Zusammenhänge beigetragen und beschäftigt sich aktuell im zweiten Teil ihrer Arbeit mit der Erarbeitung alternativer Bewertungsmethoden. Diese sollen verlässliche, nachvollziehbare und vernünftige Ergebnisse liefern und als einheitlicher und einziger Standard im Sinne einer Norm akzeptiert werden.