Nachweis der ionischen Kontamination unter Low-Standoff-Bauteilen

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Tendenziell werden elektronische Baugruppen mit immer kleineren Bauelementen bestückt. Die Minimierung der Bauelementgröße hat zwar zu einer erhöhten Funktionalität bei gleicher oder sogar kleinerer Baugruppengröße, jedoch auch zu einer Reduzierung des Standoffs unter den Bauteilen geführt. Als Folge davon wird in den meisten Fällen ein optischer Reinheitsnachweis an diesen Stellen erschwert bzw. nicht mehr möglich. Um dennoch einen Zugang für den Reinheitsnachweis v.a. hinsichtlich ionischer Verunreinigungen in diesen engen Spalten zu ermöglichen, werden extraktive Analysemethoden wie die Ionenäquivalenzmessung (ROSE-Test) oder die Ionenchromatographie (IC) angewendet. Vorteil der IC gegenüber der Ionenäquivalenzmessung ist, dass bei der IC die ionischen Verunreinigungen hinsichtlich Art und Menge charakterisiert werden können und so eine Risikoabschätzung in Bezug auf die Feuchteanfälligkeit der untersuchten Schaltung möglich ist. Die tatsächliche Aussagekraft der IC-Ergebnisse hängt dabei stark von der Qualität der zuvor durchgeführten Extraktion ab. Es stellt sich somit die Frage, ob die gängigen, seitens der IPC empfohlenen, Extraktionsparameter ausreichend sind, um auch Ionen unter Bauteilen mit einem Standoff kleiner als 30 µm ausreichend zu extrahieren. In dieser Studie soll der Einfluss von Temperatur, Extraktionszeit und Anteil an Isopropanol im Extraktionsmedium auf die Ionenextraktion beleuchtet werden. Ziel ist es somit die optimalen Parameter für die Extraktion von ionischen Verunreinigungen aus engen Spalten zu erhalten, um einen zuverlässigen Reinheitsnachweis zu gewährleisten.