Einfluss der Lötprofilparameter auf die Lötqualität beim Vakuumkondensationslöten
Konferenz: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – EBL 2016 - 8. DVS/GMM-Tagung
16.02.2016 - 17.02.2016 in Fellbach, Deutschland
Tagungsband: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten – EBL 2016
Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Lüngen, S.; Klemm, A.; Wohlrabe, H. (Technische Universität Dresden, Deutschland)
Inhalt:
Bei leistungselektronischen Baugruppen steigt die Integrationsdichte stetig an. Lötdefekte, wie zum Beispiel Gaseinschlüsse (Poren), verringern die technische Zuverlässigkeit der Baugruppe. Das Vakuumkondensationslöten bietet die Möglichkeit, den Porengehalt in Lötstellen zu minimieren. Die dabei verwendeten Lötprofileinstellungen beruhen bisher meist auf Erfahrungswerten. Diese Arbeit untersucht die Lötqualität des Vakuumkondensationslötens in Abhängigkeit vom angewendeten Temperatur- und Vakuumprofil. Die Untersuchung erfolgte an zwei verschiedenen Lotpasten und für verschiedene Bauelementgrößen und -typen. Weiterhin wurde das Layout der Schablonenöffnungen variiert. Die Lötqualität wird anhand des Porengehaltes, der Grabsteinanzahl, der Lotperlenanzahl und dem Benetzungsverhalten bewertet. Zusätzlich wird das Einsinken der Bauelemente durch den Lötprozess herangezogen.