Einsatz optischer Analysemethoden zur Charakterisierung von Schaltlichtbögen
Konferenz: Kontaktverhalten und Schalten - 22. Fachtagung Albert-Keil-Kontaktseminar
09.10.2013 - 11.10.2013 in Karlsruhe, Deutschland
Tagungsband: Kontaktverhalten und Schalten
Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Gorchakov, Sergey; Schoenemann, Thomas; Uhrlandt, Dirk; Weltmann, Klaus-Dieter (Leibniz-Institut für Plasmaforschung und Technologie, INP Greifswald, 17489 Greifswald, Deutschland)
Inhalt:
Detaillierte Analysen der Strahlung von Lichtbogenplasmen ermöglichen die Erfassung der Plasmaeigenschaften, wie z.B. Teilchendichten und Temperatur. Diese Daten können sowohl direkt für die Optimierung von Schaltgeräten als auch zur Validierung von Simulationsmodellen, die einerseits für das Verständnis der Prozesse innerhalb des Schalters, andererseits für breite Parameterstudien eingesetzt werden, verwendet werden. Die optische Emissionsspektroskopie (OES) ist eine der Hauptmethoden der optischen Diagnostik von thermischen Plasmen. Die vielfältigen Möglichkeiten der OES-Diagnostik werden am Beispiel der Abbrand bestimmten Schaltlichtbögen illustriert. Perspektiven einer Anwendung neuartiger Methoden, basierend auf Kombinationen konventioneller Ansätze, werden zur Charakterisierung von Kontaktoberflächen diskutiert.