Automatisierung – Auf dem Weg zur effizienten Testfallerstellung für den Hardware-Funktionstest
Konferenz: AmE 2013 - 4. GMM-Fachtagung
19.02.2013 - 20.02.2013 in Dortmund, Deutschland
Tagungsband: AmE 2013
Seiten: 3Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Heinz, Christian (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg, Deutschland)
Weigel, Robert (Lehrstuhl für Technische Elektronik / Friedrich-Alexander-Universität, Erlangen-Nürnberg, Deutschland)
Inhalt:
Während des Produktionsprozesses von Steuergeräten kommt häufig ein Hardware-Funktionstest zum Einsatz. Die Testfallentwicklung für diesen ist nach wie vor ein hauptsächlich manueller Prozess. In diesem Beitrag wird vorgestellt, wie die Definition von Testfällen für den Hardware-Funktionstest automatisiert werden kann. Es wird dabei speziell dem Umstand Rechnung getragen, dass zwischen den Testentwicklern und der Entwicklungsabteilung kaum ein weiterer Informationsaustausch über die Produktionsunterlagen hinaus stattfindet.