Sichere manuelle Lötprozesse an bleifreien elektronischen Baugruppen
Konferenz: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2012 - Hochentwickelte Baugruppen in Europa - 6. DVS/GMM-Tagung
14.02.2012 - 15.02.2012 in Stuttgart, Deutschland
Tagungsband: Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - EBL 2012
Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Schimanski, Helge (Fraunhofer Institut für Siliziumtechnologie (ISIT), Itzehoe, Deutschland)
Inhalt:
Die Zuverlässigkeit von bleifreien manuell reparierten elektronischen Baugruppen wurde untersucht. Hierzu wurde eine Serie von Testbaugruppen aufgebaut. Prozessgrenzen für den manuellen Lötprozess wurden definiert und anschließend eine manuelle Lötbelastung aufgebracht. Eine Zuverlässigkeitsbetrachtung nach langsamem Temperaturwechsel wurde durchgeführt. Aus den Ergebnissen wurden eine Prozessempfehlung sowie ein Anwender-Handbuch erarbeitet.