Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
13.09.2010 - 15.09.2010 in Wildbad Kreuth, Germany
Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf
Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF
Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt
Autoren:
Radetzki, Martin (Institut für Technische Informatik, Universität Stuttgart, Deutschland)
Bringmann, Oliver (FZI Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe, Deutschland)
Nebel, Wolfgang (OFFIS Institut für Informatik, Oldenburg, Deutschland)
Olbrich, Markus (Institut für Mikroelektronische Systeme, Leibniz Universität Hannover, Deutschland)
Salfelder, Felix (Institut für Informatik, Goethe Universität Frankfurt, Deutschland)
Schlichtmann, Ulf (Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung, TU München, Deutschland)
Inhalt:
Mit fortschreitender Miniaturisierung geht eine steigende Anfälligkeit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme gegenüber äußeren sowie intrinsischen Störeinflüssen und Alterungsprozessen einher. Insbesondere in Anwendungsfeldern wie dem Automobilsektor, die hohe Anforderungen an die Störfestigkeit und Langlebigkeit der Elektronik stellen, besteht der Wunsch, dass integrierte Schaltungen und Systeme schon beim Entwurf robust ausgelegt werden. Damit dies in Werkzeugen der Entwurfsautomatisierung berücksichtigt werden kann, muss der eher intuitiv gebrauchte Begriff der Robustheit formalisiert und quantifiziert werden. Dazu möchten die Autoren mit dem hier vorgestellten Robustheitsmodell sowie dem Vorschlag von Robustheitsmaßen einen Diskussionsbeitrag leisten.