Charakterisierung und Modellierung eines myCT-Systems

Konferenz: Sensoren und Messsysteme 2010 - 15. ITG/GMA-Fachtagung
18.05.2010 - 19.05.2010 in Nürnberg

Tagungsband: Sensoren und Messsysteme 2010

Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Hiller, Jochen; Kasperl, Stefan (Fraunhofer IIS (EZRT), 91058 Erlangen, Deutschland)
Reindl, Leonard M. (Universität Freiburg, IMTEK, 79110 Freiburg, Deutschland)

Inhalt:
Neben der stetigen Weiterentwicklung der industriellen Computertomographie (CT) als Mess- und Prüfmittel ist die Bestimmung der Messunsicherheit für dimensionelle CT-Messungen ein wesentlicher Forschungsgegenstand. Eine Möglichkeit, die Messunsicherheit für CT-Messungen zu bestimmen, ist als Simulationsmethode im GUM (SP1) beschrieben. Diese Methode setzt die realitätsnahe Simulation des gesamten Messprozesses voraus. Um das Verfahren in der CT einzusetzen, müssen alle wesentlichen physikalischen Effekte modelliert und die Simulation an das verwendete CT-System angepasst werden. In diesem Beitrag werden Messungen zur physikalischen Charakterisierung eines CT-Systems, die Modellierung eines deterministischen CT-Simulators sowie Möglichkeiten zur Validierung von Simulationsergebnissen vorgestellt.