Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen

Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
21.09.2009 - 23.09.2009 in Stuttgart, Germany

Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf

Seiten: 7Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Koal, T.; Scheit, D.; Vierhaus, H. T. (Brandenburgische TU Cottbus, Lehrstuhl Technische Informatik)

Inhalt:
Für hochintegrierte Schaltungen, die mit Strukturgrößen weit unter 100 nm gefertigt werden, existieren seit einigen Jahren Voraussagen für neue Fehlermechanismen, die neben transienten auch permanente Fehler betreffen. Während transiente Fehler nach Erkennung und ggf. Kompensation ohne weitere Auswirkungen bleiben, erfordern permanente Fehler eine nachfolgende Reparaturfunktion, wenn die Zuverlässigkeit des Systems abgesichert werden soll. Techniken des eingebauten Selbsttests (BIST) und der nachfolgenden Selbstreparatur (BISR) sind für irreguläre Logik-Baugruppen bisher kaum entwickelt worden. Nachfolgend werden Probleme, Möglichkeiten und Architekturen für selbstreparierende Logik gezeigt.