Histogramm-Test - Untersuchungen zu Bin-Coder-Anwendungen
Konferenz: ANALOG '08 - Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden - Schwerpunkt: Constraint-basierte Entwurfsmethoden - 10. GMM/ITG-Fachtagung
02.04.2008 - 04.04.2008 in Siegen
Tagungsband: ANALOG '08
Seiten: 6Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Sattler, Sebastian (Infineon Technologies AG, Neubiberg, Deutschland)
Gulbins, Matthias; Straube, Bernd (Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen - EAS Dresden, Deutschland)
Inhalt:
Die Komprimierung von Messdaten in einem Histogramm ist eine bekannte Methode, effizient Messdaten zu erfassen und an eine anschließende auch externe Auswerteeinheit zu übertragen. Trotz Quantisierung der Messwerte in sogenannten Bins können aus den anfallenden Daten leicht die statistischen Parameter Mittelwert und Varianz berechnet werden. Die vorliegende Arbeit untersucht die Auswirkungen der Quantisierung auf die Messdaten durch das Histogramm und führt eine neue aussagekräftige Graphik zur quantitativen und qualitativen Bewertung der Ergebnisse ein. Damit ist es möglich, die Parameter „Anzahl der Bins“ und „Binbreite“ für den Entwurf eines dem Histogramm vorgeschalteten Bin-Coders optimal zu bestimmen.