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E DIN EN IEC 60749-7 VDE 0884-749-7:2025-04

Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren

Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehalts und Analyse von anderen Restgasen

(IEC 47/2861/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-7:2024
Art/Status: Norm-Entwurf, gültig
Ausgabedatum: 2025 -04   Erscheinungsdatum: 2025-03 -14
VDE-Artnr.: 1800928
Ende der Einspruchsfrist: 2025-05-14

Dieser Teil der IEC 60749 ist vorgesehen für die Messung bzw. Prüfung des Gehalts von Wasserdampf und anderen Gasen in der Atmosphäre eines Bauelements mit hermetisch geschlossenem Metall- oder Keramikgehäuse. Er gilt für Halbleiterbauelemente, die in dieser Weise verschlossen sind, wird jedoch im Allgemeinen nur für Anwendungen mit hoher Zuverlässigkeit benutzt, wie sie z. B. im militärischen Bereich und in der Raumfahrt gelten. Diese dritte Edition wurde überarbeitet und re-organisiert, um mit Dokument MIL-STD-883, Verfahren 1018.10 übereinzustimmen. Der wesentliche technische Änderung besteht in einem zusätzlichen Detail in den Kalibrierungs-Anforderungen.
Dieses Dokument wird hauptsächlich für Anwendungen mit hoher Zuverlässigkeit benutzt, z. B. im militärischen Bereich und in der Raumfahrt.
Gegenüber DIN EN 60749-7:2012-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Diese dritte Ausgabe wurde umformuliert und neu strukturiert, um sie mit dem Text aus MIL-STD-883, Verfahren 1018.10 anzupassen.
b) Die hauptsächliche technische Änderung beläuft sich auf die zusätzlichen Details in den Kalibrierungsanforderungen.
Typische Anwendungsbeispiele des Dokumentes sind die Messung bzw. Prüfung des Gehalts von Wasserdampf und anderen Gasen in der Atmosphäre eines Bauelements mit hermetisch geschlossenem Metall- oder Keramikgehäuse.

Gegenüber DIN EN 60749-7:2012-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Diese dritte Ausgabe wurde umformuliert und neu strukturiert, um sie mit dem Text aus MIL-STD-883, Verfahren 1018.10 anzupassen.
b) Die hauptsächliche technische Änderung beläuft sich auf die zusätzlichen Details in den Kalibrierungsanforderungen.