DIN EN 61000-4-20 VDE 0847-4-20 Berichtigung 1:2012-09
Berichtigung zu DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07
Art/Status:
Norm,
zurückgezogen
Ausgabedatum: 2012 -09
VDE-Artnr.: 0847099
Ende der Übergangsfrist:
2025-03-25
Diese Berichtigung 1 dient der Korrektur von Übersetzungsfehlern in der Deutschen Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010, welche die Internationale Norm IEC 61000-4-20:2010 übernimmt. Die Deutsche Fassung wurde als DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07 veröffentlicht. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können.
