DIN EN IEC 61000-4-20 VDE 0847-4-20:2025-03

Dieses Dokument beschreibt Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung von elektrischen und elektronischen Geräten (Einrichtungen) und zur Prüfung der Störfestigkeit der Geräte (Einrichtungen) gegenüber hochfrequenten elektromagnetischen Feldern, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) zu Grunde gelegt werden. Hierbei wird die Messung der Störaussendung im normativen Anhang A und die Prüfung der Störfestigkeit im normativen Anhang B spezifiziert. Prüfungen mit HEMP-Transienten werden im normativen Anhang C beschrieben. Die in dieser Norm betrachteten Wellenleiter beinhalten offene (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die wiederum in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Informationen, die der Charakterisierung von Wellenleitern dienen, werden im Anhang D bereitgestellt. Der nutzbare Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein und es dürfen keine Leitungen an sie angeschlossen sein. Gegenüber DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07 und DIN EN 61000-4-20 Berichtigung 1 (VDE 0847-4-20 Berichtigung 1):2012-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Bereitstellung von Informationen zur Prüfung von großen Prüflingen (einschließlich Kabel); b) Umsetzung der Arbeiten zu Messunsicherheiten durch Übernahme der abgeschlossenen Arbeiten von CISPR und TC 77 (zu Störaussendungen und Störfestigkeit); c) Aktualisierung des Verfahrens für den Eignungsnachweis für das Prüfvolumen im Hinblick auf die Feldhomogenität und den Nachweis des TEM-Modes; d) Bereitstellung von Informationen zu Zweitor- und Viertor-TEM-Wellenleitern; e) Ergänzung eines neuen informativen Anhangs (Anhang I) zur Charakterisierung von TEM-Wellenleitern mit Transienten und; f) Ergänzung von Informationen zu dielektrischen Prüfständen.