DIN EN 61726 VDE 0887-726:2016-06
Konfektionierte Kabel, Kabel, Steckverbinder und passive Mikrowellenbauteile
Messung der Schirmdämpfung mit dem Strahlungskammerverfahren
(IEC 61726:2015); Deutsche Fassung EN 61726:2015
Art/Status:
Norm,
zurückgezogen
Ausgabedatum: 2016 -06
VDE-Artnr.: 0800320
Ende der Übergangsfrist:
2025-08-22
Die Anforderungen an moderne elektronische Einrichtungen kennzeichnen die Forderung nach einem Verfahren, die Schirmdämpfung von Mikrowellenbauteilen über deren gesamten Frequenzbereich zu prüfen. Für niedrige Frequenzen und Bauelemente mit regelmäßiger Form existieren praktische Prüfverfahren, die in den entsprechenden Produktnormen beschrieben werden. Für höhere Frequenzen und Bauelemente mit unregelmäßiger Form wird ein neues Verfahren benötigt. Ein solches Prüfverfahren wird in dieser Internationalen Norm beschrieben.
Diese Norm beschreibt die Messung der Schirmdämpfung mit dem Strahlungskammerverfahren, gelegentlich auch als Verfahren mit Modenmischer-Kammer (mode stirred chamber) bezeichnet, das praktisch für jedes Mikrowellenbauteil theoretisch ohne Frequenzobergrenze geeignet ist. Es ist bei niedrigen Frequenzen nur durch die Größe der Strahlungskammer begrenzt, die frequenzabhängig ist. Das Strahlungskammerverfahren ist nur ein Verfahren von vielen, um die Schirmdämpfung zu messen.
Wesentliche Änderungen gegenüber der vorherigen Ausgabe dieser Norm ist die Berücksichtigung der neuesten Entwicklungen bei der Gestaltung von Hallräumen Zudem wurde ein alternatives Messverfahren ergänzt, das die Messzeit reduziert.
Gegenüber DIN EN 61726:2000-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Die ausführliche Beschreibung der Strahlungskammer in den Anhängen A und B wurde gestrichen;
b) die eingesetzte Strahlungskammer muss jetzt mit den Anforderungen nach IEC 61000 4 21 übereinstimmen;
c) das Standard-Messverfahren wurde um eine "schnelle Messung" erweitert, um die Messzeit abzukürzen;
d) die Beziehung zwischen Kopplungswiderstand und Schirmdämpfung wurde vollständig überarbeitet und ist jetzt im Anhang A (informativ) beschrieben;
e) das Beispiel eines Kalibrierelements ist jetzt im Anhang B (informativ) beschrieben.
