DIN ISO 7503-2 VDE 0493-2-5032:2017-12

Die Normen der Reihe ISO 7503 enthalten Richtlinien für die Bestimmung von Oberflächenkontaminationen. Die Norm ist auf viele Situationen anwendbar, in denen eine radioaktive Kontamination auftreten kann. Eine Kontamination entsteht durch die Freisetzung von Radioaktivität im lokalen Umfeld. In den meisten Fällen ist die Freisetzung unbeabsichtigt, jedoch können Umstände auftreten, in denen sie absichtlich herbeigeführt wurde. Die Vorgehensweise zur Messung von Stärke und Verteilung der Kontamination ist jedoch üblicherweise immer gleich, unabhängig von den jeweiligen Gegebenheiten.
Die Norm umfasst drei Teile: Teil 1 behandelt primär die direkte Überwachung und enthält praktische Richtlinien für die Messung. Teil 2 behandelt indirekte Messungen unter Verwendung verschiedener Formen von Wischtests. Teil 3 beschreibt die Kalibrierung der für die Überwachung von Oberflächenkontaminationen verwendeten Messinstrumente und beschreibt einen rigoroseren Ansatz für die quantitative Bestimmung des Kontaminationspegels.
Der vorliegende Teil 2 der Norm behandelt die Bestimmung einer Oberflächenkontamination durch indirekte Messung mit Hilfe eines Wischtests. Dieses Verfahren bringt eine zusätzliche Unsicherheit mit sich, da die Methode auf der Einschätzung des Entnahmefaktors der Aktivität beruht. Die ermittelte Aktivität hängt von der Schätzung der von der Oberfläche entnommenen Aktivität ab.