DIN ISO 8769 VDE 0412-8769:2016-08

Radioaktive Kontamination von Oberflächen kann durch Vergießen, Verspritzen oder durch Leckage von offenen Quellen entstehen oder durch Aufbrechen oder Verlust der Unversehrtheit von umschlossenen Quellen und kann gesundheitliche Schäden verursachen.
Die Notwendigkeit einer effektiven Überwachung von Oberflächenkontaminationen wurde schon vor langer Zeit erkannt. Die Oberflächenkontamination wird in Einheiten der Aktivität je Flächeneinheit angegeben, der Größe, die üblicherweise verwendet wird, um Grenzwerte für die maximale Oberflächenkontamination anzugeben.
Diese Grenzwerte basieren auf Strahlenschutzerwägungen und wurden aus den Grenzwerten für die effektive Dosis oder die Aktivitätszufuhr abgeleitet, die von der Internationalen Kommission für Strahlenschutz (ICRP) empfohlen wurden.
Während sich staatliche Regelwerke auf die Oberflächenkontamination in Einheiten der Aktivität je Flächeneinheit beziehen, ist die Anzeige von Überwachungsmessgeräten direkt auf die Strahlung bezogen, die von der Oberfläche emittiert wird, und nicht auf die Aktivität, die auf oder innerhalb der Oberfläche enthalten ist. Aufgrund von Änderungen der Absorptions- und Streuungseigenschaften von realen Oberflächen kann im Allgemeinen nicht angenommen werden, dass es einen einfachen, bekannten Zusammenhang zwischen der Emissionsrate der Oberfläche und der Aktivität gibt. Daraus ergibt sich die Notwendigkeit für Kalibrierstrahler, die vorzugsweise sowohl in Einheiten der Oberflächenemissionsrate als auch der Aktivität spezifiziert sind.
Diese Norm spezifiziert, rückverfolgbar auf nationale Messnormale, Eigenschaften von Referenzstrahlern für radioaktive Oberflächenkontamination zum Zweck der Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren, sowie für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren bevorzugte Bezugsstrahlungen.
Sie gilt für Alpha-, Beta- und Photonenquellen mit maximalen Photonenenergien nicht größer als 1,5 MeV. Sie beschreibt jedoch nicht die Verfahren für die Anwendung dieser Referenzstrahler für die Kalibrierung von Oberflächenkontaminationsmonitoren. Derartige Verfahren sind in DIN EN 60325 (VDE 0493-2-1), DIN EN 62363 (VDE 0493-2-4) und anderen Dokumenten beschrieben.
Gegenüber DIN ISO 8769:2012-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) eine Definition der Stirnfläche eines Strahlers wurde aufgenommen;
b) als übergeordnete Benennung wird "Referenzstrahler" verwendet;
c) statt Transfernormalen werden Referenz-Transfermessgeräte behandelt;
d) die Anforderungen an deren Nachweiswahrscheinlichkeit wurden geändert;
e) die allgemeine Beschreibung in 5.1 wurde erweitert;
f) in Tabelle 1 wurden Angaben zur Filterdicke sowie zur Kalibrierung mit 60Co ergänzt;
g) Änderungen bezüglich der in den Tabellen 2 und 3 empfohlenen Radionuklide;
h) Referenzstrahler der Klasse 1 mit einer Fläche von 150 mm × 200 mm wurden in 5.2 aufgenommen;
i) die Definition der Gleichförmigkeit wurde verbal in 3.7 geändert ohne eine exakte Formel anzugeben. Der in 5.2.3 angegebene Berechnungsweg wurde jedoch nicht geändert, doch wurde die Anforderung an die Gleichförmigkeit von Referenzstrahlern der Klassen 1 und 2 von 10 % auf 90 % geändert (siehe hierzu die Nationalen Fußnoten zu 5.2.3 und 5.3.3) und die Größe der einzelnen Teilflächen auf höchstens 10 cm2 verdoppelt;
j) für Arbeitsquellen wird in 5.4 auf die Anforderungen an Referenzstrahler der Klasse 2 (5.3) und nicht mehr auf die Anforderungen an Referenzstrahler der Klasse 1 (5.2) verwiesen;
k) die Literaturhinweise wurden ergänzt.