DIN EN 60904-7 VDE 0126-4-7:2009-12
Photovoltaische Einrichtungen
Teil 7: Berechnung der spektralen Fehlanpassungskorrektur für Messungen an photovoltaischen Einrichtungen
(IEC 60904-7:2008); Deutsche Fassung EN 60904-7:2009
Art/Status:
Norm,
zurückgezogen
Ausgabedatum: 2009 -12
VDE-Artnr.: 0126028
Ende der Übergangsfrist:
2022-09-24
Dieser Teil von IEC 60904 beschreibt das Verfahren zur Korrektur der durch die Fehlanpassung zwischen Prüfspektrum und Referenzspektrum und durch die Fehlanpassung zwischen der spektralen Empfindlichkeit (SR) der Referenzzelle und des Prüflings in die Prüfung von photovoltaischen Einrichtungen eingeführten systematischen Messabweichung. Das Verfahren eignet sich nur für die Anwendung auf photovoltaische Einrichtungen, deren spektrale Empfindlichkeit linear verläuft, wie in IEC 60904 10 festgelegt. Dieses Verfahren gilt für Single-Junction-(SJ-)Einrichtungen, kann aber im Grundsatz auch auf Multi-Junction-(MJ-)Einrichtungen ausgedehnt werden.
Vorausgegangener Norm-Entwurf war E DIN EN 60904-7:2007-05.
Gegenüber DIN EN 60904-7:1998-11 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Änderung des Titels um den Zweck der Norm besser widerzuspiegeln;
b) die Formeln wurden um einen erklärenden Text ergänzt;
c) Abschnitt 3 "Beschreibung des Verfahrens" beschreibt nun wann es notwendig ist das Verfahren anzuwenden und wann nicht. Es wird beschrieben wann Daten gesammelt werden müssen bevor die Fehlanpassungskorrektur berechnet werden kann;
d) Abschnitte 4, 5 und 6 wurden hinzugefügt;
e) die Formel zur Fehlanpassungskorrektur wurde korrigiert.
