IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Ausgabedatum: 2012-09
Edition: 2.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 5 VDE-Artnr.: 219204