IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

Ausgabedatum: 2010-07
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 4 VDE-Artnr.: 217404