IEC 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Ausgabedatum:
2010-05
Edition:
1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 22 VDE-Artnr.: 217200
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.