IEC 62416:2010
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Ausgabedatum:
2010-04
Edition:
1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 20 VDE-Artnr.: 217130
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.