IEC 62373:2006
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Ausgabedatum:
2006-07
Edition:
1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 27 VDE-Artnr.: 212915
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)