IEC 60512-25-6:2004
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
Ausgabedatum:
2004-05
Edition:
1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 35 VDE-Artnr.: 211397
Describes methods for measuring an eye pattern response and jitter in the time domain.