IEC 60749-2:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Ausgabedatum: 2003-08
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 1 VDE-Artnr.: 210974