Vergleich der Einkopplung in Linearstrukturen in verschiedenen Messumgebungen

Abstract:
Verbindungsstrukturen (Leitungen) sind häufig die wichtigsten Einfalltore für elektromagnetische Störungen in Systemen. Die Leitung dient dann als (parasitäre) Antenne. Aus der Sicht der EMV interessieren besonders die Maximalwerte elektrischer Größen (Störstrom, Störspannung, Störleistung) am Port der Leitung. Da diese Verbindungsstrukturen in der Regel für niederfrequente Nutzsignale ausgelegt sind, bilden sie für ausreichend hohe Störsignalfrequenzen unangepasste Leitungen. Dadurch kommt es zu Resonanzen auf den Leitungen. Häufig sind es gerade diese Resonanzen, die die Maximalwerte der Störgrößen am Port bestimmen. Der vorliegende Beitrag beschäftigt sich mit der Untersuchung dieser Resonanzen in linearen Leitungsstrukturen, hervorgerufen durch eingekoppelte Störfelder. Dabei wurden Mikrostreifenleiter in verschiedenen Prüfumgebungen untersucht. Die Beaufschlagung der Prüflinge erfolgte zum einen in einer GTEM-Zelle. Hier wurden die Prüflinge mit TEM-Wellen beaufschlagt. Die Ergebnisse dieser Untersuchungen wurden mit den Ergebnissen der Messungen in Modenverwirbelungskammern verglichen.