Modulanalyse unter Einbindung von messtechnisch bestimmten Black Box Modellen
Conference: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
03/07/2006 - 03/09/2006 at Düsseldorf, Germany
Proceedings: EMV 2006
Pages: 12Language: germanTyp: PDF
Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title
Authors:
Schubert, Göran (Conti-Temic, CC-Elektronik, Nürnberg)
Spang, Matthias (Friedrich-Alexander Universität, Lehrstuhl für Elektromagnetische Felder, Erlangen)
Abstract:
Analyse durch Hinsehen beschränkt sich auf einfache Schaltungen. Deshalb wird der Sinn von Ersatzschaltbildern hinterfragt. Als Alternative wird vorgeschlagen, auf der Ebene der Übertragungsfunktionen mit Informationen über die Lage und Güte von Pol- und Nullstellen zu arbeiten. Dies erlaubt das Einbinden von Black-Box-Modell-Blöcken, die aus Messungen gewonnen werden. Dadurch generiert man zwangsläufig realitätsnahe Modelle. Ein Verfahren zur Gewinnung der Pol- und Nullstellen aus dem gemessenen Bode-Diagramm wird vorgestellt.