DAISI - Digital Automated Interferometer Surface Inspection
Conference: Optische und elektronische Verbindungstechnik 2005 - GMM-Fachtagung
09/28/2005 at Fankfurt/M, Deutschland
Proceedings: Optische und elektronische Verbindungstechnik 2005
Pages: 3Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Zimnol, Marco (Diamond GmbH, Leinfelden-Echterdingen, Deutschland)
Abstract:
Die Stirnflächengeometrie ist eine wesentliche Größe für hochwertige LWL-Steckverbindungen. Sie ist die Voraussetzung zum Erreichen niedriger Einfügedämpfungswerte und geringster Reflexionen. Die Beobachtung dieser Parameter führt zu einer Verifikation der Fertigungsparameter und kann somit als laufende Prozeßkontrolle eingesetzt werden. Die daraus resultierende Anforderung, schnell und fertigungsgerecht zu messen, wird anhand des vorgestellten Meßsystems aufgezeigt.