Ein Testverfahren zur Erkennung von parametrischen Mehrfachfehlern in linearen analogen Schaltungen
Conference: ANALOG '05 - 8. GMM/ITG-Diskussionssitzung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden
03/16/2005 - 03/18/2005 at Hannover, Deutschland
Proceedings: ANALOG '05
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Völkel, T.; Mathis, W. (Universität Hannover, Institut für theoretische Elektrotechnik, Appelstr. 9A, 30167 Hannover, Deutschland)
Abstract:
Im Rahmen dieser Arbeit stellen wir ein Verfahren vor, mit dem man Analogschaltungen defekt-orientiert testen und parametrische Mehrfachfehler identifizieren kann. Das Verfahren kann in die Kategorie Simulation-after-Test eingeordnet werden und ist bei linearen und auch bei nichtlinearen Analogschaltungen einsetzbar, wobei im Rahmen dieser Arbeit nur die lineareren Analogschaltungen betrachtet werden. Zu dieser Arbeit wird das Testkonzept für lineare Schaltungen diskutiert und anhand eines Beispiels illustriert.