Kontaktierung von Aluminium-Litzenleitern mittels Crimptechnologie

Conference: Kontaktverhalten und Schalten - 21. Fachtagung Albert-Keil-Kontaktseminar
09/28/2011 - 09/30/2011 at Karlsruhe, Germany

Proceedings: Kontaktverhalten und Schalten

Pages: 8Language: germanTyp: PDF

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Authors:
Schmidt, Helge; Hauswald, Tanja; Blümmel, Uwe (Tyco Electronics AMP GmbH / TE Connectivity, Bensheim, Deutschland)

Abstract:
Die Anschlusskontaktierung von Al-Drähten im Vergleich zu Cu-Drähten ist in Folge der Kostenentwicklung und einer möglichen Gewichtseinsparung aktuell. Es wird gezeigt, dass das Kriechverhalten des Aluminiums sich bei einer ordnungsgemäßen Verarbeitung des Aluminiumlitzenleiterdrahtes nur untergeordnet auswirkt, da im F-Crimp eine vergleichsweise andauernde, geringe, mechanische Beanspruchung stattfindet. Es wird im Weiteren dargelegt, dass die dauerhafte Funktion der Verbindung durch partielle Kaltverschweißung des Aluminiums zum Kupfer gegeben ist. Dieses kann durch ein für Aluminium optimales Design der F-Crimphülse mit optimalen Verarbeitungsparametern wie z. B. Crimphöhe optimiert werden. Weiterhin muss die Verbindungsstelle Al/Cu gegenüber Feuchtigkeit und damit elektrochemischer Korrosion abgedichtet werden. Unter Beachtung aller dieser Aspekte ist eine zuverlässige Al-Crimpverbindung darstellbar.