Freilaufdioden aus Silizium - Schaltverhalten, Robustheit
Conference: Bauelemente der Leistungselektronik und ihre Anwendungen - 6. ETG-Fachtagung
04/13/2011 - 04/14/2011 at Bad Nauheim, Deutschland
Proceedings: Bauelemente der Leistungselektronik und ihre Anwendungen
Pages: 9Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Lutz, Josef; Baburske, Roman (Technische Universität Chemnitz, Deutschland)
Abstract:
Auch Freilaufdioden für hohe Leistung können auf Soft-Recovery und sehr hohe Robustheit ausgelegt werden. Der Schlüssel für die erforderliche Beherrschung des Abbaus des internen Ladungsträgerplasmas liegt am nn+-Übergang. Dort können geeignete Strukturen im kritischen Betriebszustand Löcher injizieren. Damit werden wieder Freiheitsgrade zur Verbesserung der Stoßstromfestigkeit und Höhenstrahlungsfestigkeit gewonnen.