Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen und Systeme

Abstract:
Für hochintegrierte Schaltungen und Systeme, die auf der Basis von Nano-Technologien mit Strukturgrößen unter 50 nm implementiert sind, sagen Experten seit Jahren neue Fehlermechanismen voraus, welche Zuverlässigkeit und Lebensdauer massiv beeinträchtigen können. Verfahren, welche transiente und/oder permanente Fehler abfangen, ausgleichen oder gar reparieren können, sind in den letzten Jahren entwickelt worden, um hoch-zuverlässige Systeme aus nicht zuverlässigen Komponenten bauen zu können. Dies ist jedoch nur bis zu einem gewissen Punkt möglich, weil viele "zuverlässige" Architekturen systematische Schwachstellen enthalten. Hier soll gezeigt werden, wo essentielle Schwachstellen liegen, welche spezielle Aufmerksamkeit erfordern oder nur technologisch beherrschbar sein werden.