Teilentladungsmessung mit ultrakurzen Röntgenpulsen
Conference: Internationaler ETG-Kongress 2009 - Fachtagung 3: Direktantriebe in Produktionsmaschinen und Industrieanlagen - Generatoren und Antriebe in regenerativen Kraftwerken / Fachtagung 4: Diagnostik elektrischer Betriebsmittel
10/27/2009 - 10/28/2009 at Düsseldorf, Germany
Proceedings: Internationaler ETG-Kongress 2009
Pages: 4Language: germanTyp: PDF
Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title
Authors:
Fuhrmann, Henning; Krivda, Andrej (ABB Schweiz AG, Baden, Schweiz)
Tröger, Alexander; Riechert, Uwe (ABB Schweiz AG, Zürich, Schweiz)
Abstract:
Wir stellen eine Methode zur Verbesserung der Empfindlichkeit von Teilentladungsmessungen vor. Die Methode beruht auf der Ionisation von Hohlräumen durch Röntgenstrahlung. Dadurch wird der Zündverzug vollständig vermieden, der besonders für die Detektierbarkeit kleiner Hohlräume eine große Rolle spielt. Im Gegensatz zu früheren Untersuchungen zur Ionisation von Hohlräumen mit kontinuierlichen oder langsam gepulsten Röntgenstrahlen benutzen wir extrem kurze Röntgenblitze von etwa 50 ns Dauer, die ausschließlich direkt vor der TE-Messung angewendet werden. Mit dieser Methode haben wir im Laborversuch Teilentladungen in Hohlräumen von weniger als einem Millimeter Durchmesser ohne Verzug und bei der theoretisch erwarteten Einsatzspannung zünden können. Die gemessenen TE-Pegel waren zumindest gleich groß wie bei Messungen ohne Röntgenblitz, die Einsatzspannungen waren jedoch im Vergleich zu Tests ohne Strahlung um einen Faktor 2-5 reduziert. Die gleiche Methode wurde auch an GIS-Isolatoren mit vergleichbarem Erfolg angewendet.