Walshfunktionen für das Testen von Mixed-Signal Schaltungen

Abstract:
Es wird ein einfaches und hochgenaues Verfahren vorgestellt, welches den Test von analogen und digital analog gemischten Schaltungen mit einfachen digitalen Ressourcen ermöglicht. Das Verfahren strebt eine erhebliche Reduzierung der Testkosten (CoT - Cost of Test) von komplexen Systems-on-Chip (SoC) Schaltungen an, indem die auf dem SoC vorhandenen digitalen Ressourcen zu Testzwecken rekonfiguriert werden, und/oder kostengünstige digitale Tester verwendet werden können. Das Verfahren basiert auf den Walshfunktionen, der schnellen Walshtransformation (FWT - Fast Walsh Transform) und einem digitalen Algorithmus. Grundlegende Tester- Aufgaben wie Generierung und Auswertung von Testsignalen können direkt auf dem Chip ausgeführt werden. Dies führt zu einer äußerst effizienten (weniger Ressourcen) und robusten (rein digital) Testlösung, welche für Built-In Self-Test (BIST) Applikationen hervorragend geeignet ist. Wichtige Entwurfsfaktoren für eine praktische BIST-Implementierung werden angesprochen. Das Verfahren wird beispielhaft auf einen Analog-Digital-Wandler angewendet und das Gutverhalten anhand von Simulationen und experimentellen Ergebnisse validiert.