Anwendungsbezogene Analyse der Robustheit von Digitalen Schaltungen

Abstract:
Die kontinuierliche Reduzierung der Strukturgrößen führt zu einer erhöhten Fehleranfälligkeit von digitalen Schaltungen. Sowohl Produktionsfehler als auch transiente Fehler können die Funktionsfähigkeit beeinflussen. Aufgrund dessen wird die Untersuchung der Fehlertoleranz im Entwicklungsprozess zunehmend wichtig. Während simulative Methoden im Allgemeinen nur einen kleinen Anteil aller potentiell fehlerhaften Szenarien betrachten, können mit formalen Techniken alle Szenarien und alle potentiellen Fehlertypen untersucht werden. In dieser Arbeit wird gezeigt, wie anwendungsspezifisches Wissen bei der formalen Untersuchung eingebracht werden kann. Hierzu werden zunächst Randbedingungen einer Anwendung ermittelt und im Anschluss zur Untersuchung der Fehlertoleranz unter Anwendungsbedingungen verwendet. Die Experimente zeigen, dass die Fehlertoleranz unter Berücksichtigung einer bestimmten Anwendung oftmals deutlich höher als die Fehlertoleranz ohne Restriktionen ist.