Diagnose realistischer Defekte mit Hilfe des X-Fehlermodells
Conference: Zuverlässigkeit und Entwurf - 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung
09/29/2008 - 10/01/2008 at Ingolstadt, Germany
Proceedings: Zuverlässigkeit und Entwurf
Pages: 2Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Ilia Polian; Engelke, Piet; Hillebrecht, Stefan; Becker, Bernd (Institut für Informatik, Universität Freiburg, Georges-Köhler-Allee 51, 79110 Freiburg)
Nakamura, Yusuke; Miyase, Kohei; Kajihara, Seiji; Wen, Xiaoqing (Faculty of CS and Systems Eng., Kyushu Institute of Technology, Iizuka-shi, 820-8502, Japan)
Abstract:
Für heutige Diagnoseverfahren stellen Nichtstandarddefekte eine Herausforderung dar. Wir untersuchen die Leistungsfähigkeit der vor kurzem vorgestellten X-Fehlerdiagnose für zwei hochkomplexe Defektklassen. Simulationsexperimente zeigen die Überlegenheit der X-Fehlerdiagnose gegenüber den traditionellen Methoden.