Stichprobenproblematik bei der Lebensdaueranalyse von Schaltelementen
Conference: Kontaktverhalten und Schalten - 19. Fachtagung Albert-Keil-Kontaktseminar an der Universität Karlsruhe
09/26/2007 - 09/28/2007 at Karlsruhe
Proceedings: Kontaktverhalten und Schalten
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
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Authors:
Waßmundt, Dieter (Leitender Berater für Angewandte Statistik 1970-1996, bei der IBM-Deutschland GmbH, Mainz)
Abstract:
Es ist ein allgemein bekanntes Problem, dass bei LD-Test's von Prototyp-Produkten in LD-Prüfeinrichtungen, die Anzahl der Prüflinge meist so klein wie möglich gehalten werden muss ( n -> klein ). Da u. U. mehrere Konfigurationen/Varianten (k) im LD-Test zu prüfen sind, die Prüfeinrichtungen knapp und die Testzeiten (t) lang sind, ist obige Strategie leicht nachvollziehbar. Wenn man weiterhin noch in Betracht zieht, dass ein Produkt 4711 schnell zur Serienreife hin entwickelt werden muss, um dann nach einer Produktlebenszeit von 3 - 5 Jahren schon wieder durch das Nachfolgeprodukt 4712 abgelöst zu werden so ist klar, dass man versuchen wird zu minimieren: Gesamte Produkt-Prüfzeit Nt = k x n x t -> Minimum