Redundanz-Management und Fehlerisolierung für die Selbstreparatur in digitalen und analogen Schaltungen
Conference: ANALOG '06 - 9. ITG/GMM-Fachtagung
09/27/2006 - 09/29/2006 at Dresden, Germany
Proceedings: ANALOG '06
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title
Authors:
Kothe, R.; Galke, C.; Galke, C.; Vierhaus, H. T. (BTU Cottbus, Technische Informatik, Postfach 10 1344, 03013 Cottbus)
Abstract:
Für Halbleiter-Technologien mit Strukturgrößen um und unter 50 nm werden drastisch sinkende Ausbeuten durch höhere Parameter-Streuungen vorhergesagt. Wegen gleichzeitig höherer spezifischer Belastungen durch Feldstärken und Stromdichten nimmt außerdem die potenzielle Ausfallrate „im Feld“ zu. Benötigt wird deshalb eine Architektur von Schaltungen und Systemen, welche den Entwurf zuverlässige Systeme auf der Basis nicht hoch-zuverlässiger Hardware erlaubt. Dazu werden erste Konzepte vorgestellt.