Grundlagenuntersuchungen zum Isoliervermögen von Silikonisolierungen mit Interfaces zur Entwicklung kompakter Mittelspannungs-Kabelmuffen
Conference: Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen - ETG-Fachtagung
03/08/0000 - 03/09/2005 at Hanau
Proceedings: Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen
Pages: 6Language: germanTyp: PDF
Personal VDE Members are entitled to a 10% discount on this title
Authors:
Bärsch, Roland; Berthold, Volker (Hochschule Zittau/Görlitz (FH), Deutschland)
Pilling, Jürgen; Hofmann, Jens (CELLPACK GmbH Waldshut-Tiengen, Deutschland)
Abstract:
In zahlreichen Hochspannungsisolierungen sind - häufig bedingt durch deren Montage - lösbare Fugen (Interfaces) unvermeidbar. Das gilt vor allem für Kabelgarnituren. Die Isolierelemente der Interfaces(Grenzflächen) können nach der Montage der Kabelgarnituren keine chemische Bindung mehr eingehen. Die Grenzflächen bilden deshalb potenzielle Schwachstellen. Im Beitrag werden die Ergebnisse von Untersuchungen zum Isoliervermögen von Modellanordnungen mit Grenzflächen im Hinblick auf Mittelspannungs-Kabelgarnituren mit Silikonisolierungen dargestellt. Dabei wurden die Interfacepartner, die Art der Modellanordnung, der Anpressdruck im Interface, die Rauheit der Isolierstoffoberfläche im Interface, Füllstoffe im Interface und die Beanspruchungszeit zur Ermittlung der Lebensdauerkennlinie variiert. Anschließend wird über den Aufbau einer neuartigen Mittelspannungs-Kabelmuffe berichtet, die auf der Grundlage der vorgestellten Untersuchungsergebnisse gestaltet wurde.